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- F20-UV/F20-NIR/F20-EXRFilmetrics F20 白光干涉測(cè)厚儀儀
Filmetrics F20 白光干涉膜厚測(cè)量?jī)x是一款高精度、多功能的測(cè)量設(shè)備,能夠快速測(cè)定薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、反射率和透過率等特性。其非接觸式測(cè)量方式適合各種脆弱或敏感材料,具備納米級(jí)分辨率,測(cè)量范圍廣(1nm-3mm)。該儀器適用于多種應(yīng)用場(chǎng)景,包括半導(dǎo)體、光學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。F20膜厚儀可在數(shù)秒內(nèi)提供準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果,支持單層及多層薄膜分析,為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供可靠支持。
- 型號(hào):F20-UV/F20-NIR/F20-EXR
- 更新日期:2025-04-25 ¥面議
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- K系列博曼BOWMAN高精度鍍層測(cè)量?jī)x
美國(guó)博曼K系列XRF高精度涂層測(cè)量系統(tǒng),具備12英寸×12英寸的測(cè)量區(qū)域,適用于多種樣品檢測(cè)。
- 型號(hào):K系列
- 更新日期:2024-11-13 ¥面議
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- B系列博曼BOWMAN高性能XRF鍍層測(cè)厚儀
B系列是博曼的基礎(chǔ)機(jī)型和常規(guī)機(jī)型。該型號(hào)采用自上而下的測(cè)量方式。配備固定樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)手動(dòng)操作。測(cè)量時(shí)將樣品放入樣品倉(cāng),通過觀察視頻圖像來對(duì)準(zhǔn)屏幕上十字線內(nèi)的位置來完成測(cè)量。
- 型號(hào):B系列
- 更新日期:2024-11-13 ¥面議
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- F54-XYT-300薄膜厚度測(cè)量?jī)x
借助F54-XYT-300薄膜厚度測(cè)量?jī)x的光譜反射系統(tǒng),可以快速輕松地測(cè)量200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)并提供快速的厚度測(cè)量,達(dá)到每秒兩點(diǎn)。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性,矩形或線性測(cè)量坐標(biāo)圖案中選擇,也可以創(chuàng)建自己編輯的不受限制的測(cè)量點(diǎn)數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置,任何具有基本計(jì)算機(jī)技能的人都可以使用。
- 型號(hào):F54-XYT-300
- 更新日期:2024-07-24 ¥面議
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- F54-XY-200薄膜厚度測(cè)量?jī)x
借助F54-XY-200薄膜厚度測(cè)量?jī)x光譜反射系統(tǒng),可以輕松地測(cè)量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)并提供厚度測(cè)量,達(dá)到每秒兩點(diǎn)。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性,矩形或線性測(cè)量坐標(biāo)圖案中選擇,也可以創(chuàng)建自己編輯的測(cè)量點(diǎn)數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置,任何具有基本計(jì)算機(jī)技能的人都可以使用。
- 型號(hào):F54-XY-200
- 更新日期:2024-07-24 ¥面議
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- Auto SEHORIBA 一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀
HORIBA 一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀是新型的全自動(dòng)薄膜測(cè)量分析工具。采用工業(yè)化設(shè)計(jì),操作簡(jiǎn)單,可在幾秒鐘內(nèi)完成全自動(dòng)測(cè)量和分析,并輸出分析報(bào)告。是用于快速薄膜測(cè)量和器件質(zhì)量控制理想的解決方案。
- 型號(hào):Auto SE
- 更新日期:2023-08-22 ¥面議
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- Smart SEHORIBA 智能型多功能橢偏儀
HORIBA 智能型多功能橢偏儀,多功能性設(shè)計(jì),配置靈活,具備多角度測(cè)量能力,可方便實(shí)現(xiàn)在線與離線配置切換。是一款針對(duì)單層和多層薄膜進(jìn)行簡(jiǎn)單,快速,表征和分析的工具。
- 型號(hào):Smart SE
- 更新日期:2023-06-06 ¥面議
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- UVISEL PlusHORIBA 研究級(jí)經(jīng)典型橢偏儀
HORIBA 研究級(jí)經(jīng)典型橢偏儀是一種無損無接觸的光學(xué)測(cè)量技術(shù),基于測(cè)量線偏振光經(jīng)過薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變,通過模型擬合后得到薄膜、界面和表面粗糙層的厚度以及光學(xué)性質(zhì)等等,可測(cè)厚度范圍為幾埃至幾十微米。此外,還可以測(cè)試材料的反射率及透過率。
- 型號(hào):UVISEL Plus
- 更新日期:2023-06-06 ¥面議