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Filmetrics F20 白光干涉膜厚測(cè)量?jī)x是一款高精度、多功能的測(cè)量設(shè)備，能夠快速測(cè)定薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、反射率和透過率等特性。其非接觸式測(cè)量方式適合各種脆弱或敏感材料，具備納米級(jí)分辨率，測(cè)量范圍廣（1nm-3mm）。該儀器適用于多種應(yīng)用場(chǎng)景，包括半導(dǎo)體、光學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。F20膜厚儀可在數(shù)秒內(nèi)提供準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，支持單層及多層薄膜分析，為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供可靠支持。

型號(hào)：F20-UV/F20-NIR/F20-EXR

更新日期：2025-04-25

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美國(guó)博曼K系列XRF高精度涂層測(cè)量系統(tǒng)，具備12英寸×12英寸的測(cè)量區(qū)域，適用于多種樣品檢測(cè)。

型號(hào)：K系列

更新日期：2024-11-13

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B系列是博曼的基礎(chǔ)機(jī)型和常規(guī)機(jī)型。該型號(hào)采用自上而下的測(cè)量方式。配備固定樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)手動(dòng)操作。測(cè)量時(shí)將樣品放入樣品倉(cāng)，通過觀察視頻圖像來對(duì)準(zhǔn)屏幕上十字線內(nèi)的位置來完成測(cè)量。

型號(hào)：B系列

更新日期：2024-11-13

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借助F54-XYT-300薄膜厚度測(cè)量?jī)x的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測(cè)量200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)并提供快速的厚度測(cè)量，達(dá)到每秒兩點(diǎn)。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性，矩形或線性測(cè)量坐標(biāo)圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的不受限制的測(cè)量點(diǎn)數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置，任何具有基本計(jì)算機(jī)技能的人都可以使用。

型號(hào)：F54-XYT-300

更新日期：2024-07-24

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借助F54-XY-200薄膜厚度測(cè)量?jī)x光譜反射系統(tǒng)，可以輕松地測(cè)量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)并提供厚度測(cè)量，達(dá)到每秒兩點(diǎn)。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性，矩形或線性測(cè)量坐標(biāo)圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的測(cè)量點(diǎn)數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置，任何具有基本計(jì)算機(jī)技能的人都可以使用。

型號(hào)：F54-XY-200

更新日期：2024-07-24

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HORIBA 一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀是新型的全自動(dòng)薄膜測(cè)量分析工具。采用工業(yè)化設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)單，可在幾秒鐘內(nèi)完成全自動(dòng)測(cè)量和分析，并輸出分析報(bào)告。是用于快速薄膜測(cè)量和器件質(zhì)量控制理想的解決方案。

型號(hào)：Auto SE

更新日期：2023-08-22

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HORIBA 智能型多功能橢偏儀，多功能性設(shè)計(jì)，配置靈活，具備多角度測(cè)量能力，可方便實(shí)現(xiàn)在線與離線配置切換。是一款針對(duì)單層和多層薄膜進(jìn)行簡(jiǎn)單，快速，表征和分析的工具。

型號(hào)：Smart SE

更新日期：2023-06-06

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HORIBA 研究級(jí)經(jīng)典型橢偏儀是一種無損無接觸的光學(xué)測(cè)量技術(shù)，基于測(cè)量線偏振光經(jīng)過薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變，通過模型擬合后得到薄膜、界面和表面粗糙層的厚度以及光學(xué)性質(zhì)等等，可測(cè)厚度范圍為幾埃至幾十微米。此外，還可以測(cè)試材料的反射率及透過率。

型號(hào)：UVISEL Plus

更新日期：2023-06-06

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