Filmetrics 自動光學(xué)膜厚測量儀
簡要描述：Filmetrics F54-XY-200 自動光學(xué)膜厚測量儀借助光譜反射系統(tǒng)，可以測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，達到每秒兩點。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性，矩形或線性測量坐標圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的測量點數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置，任何具有基本計算機技能的人都可以使用。
產(chǎn)品型號：F54-XY-200- 廠商性質(zhì)：代理商
- 更新時間：2025-06-24
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Filmetrics F54-XY-200 自動光學(xué)膜厚測量儀
Filmetrics F54-XY-200 自動光學(xué)膜厚測量儀產(chǎn)品介紹：
Filmetrics F54-XY-200 自動光學(xué)膜厚測量儀借助光譜反射系統(tǒng)，可以測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，達到每秒兩點。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性，矩形或線性測量坐標圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的測量點數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置，任何具有基本計算機技能的人都可以使用。
Filmetrics F54-XY-200 自動光學(xué)膜厚測量儀產(chǎn)品特點優(yōu)勢：
自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)，快速定位、實時獲得結(jié)果；
可測樣品膜層：基本上所有光滑的。非金屬的薄膜都可以測量；
測繪結(jié)果可用2D或3D呈現(xiàn)，方便用戶從不同的角度檢視；
Filmetrics F54-XY-200 自動光學(xué)膜厚測量儀測量原理：
當入射光穿透不同物質(zhì)的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導(dǎo)致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。
Filmetrics F54-XY-200 自動光學(xué)膜厚測量儀工業(yè)應(yīng)用：
半導(dǎo)體膜層 | 顯示技術(shù) | 消費電子 | 派瑞林 |
光刻膠 | OLED | 防水涂層 | 電子產(chǎn)品/電路板 |
介電層 | ITO和TCOs | 射頻識別 | 磁性材料 |
砷化鎵 | 空氣盒厚 | 太陽能電池 | 醫(yī)學(xué)器械 |
微機電系統(tǒng) | PVD和CVD | 鋁制外殼陽極膜 | 硅橡膠 |
Filmetrics F54-XY-200 自動光學(xué)膜厚測量儀參數(shù)：
波長范圍： | 190nm-1700nm | 光源： | 鎢鹵素?zé)?、氘?/span> |
測量nk值厚度要求*： | 50nm | 測量精度2： | 0.02nm |
準確度*：取較大者 | 1nm或0.2% | 穩(wěn)定性3： | 0.05nm |
更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取 | |||
