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手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術，可用于確認物質(zhì)里的特定元素，同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長（λ）及能量（E）確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術就能測定物質(zhì)的元素構成。手持式合金分析儀是基于X射線理論而誕生的，它主要用于軍工、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場測定。是伴隨世界經(jīng)濟崛起的工業(yè)和軍事制造領域的快速成份鑒定工具。每一個原子都有自己固定數(shù)量的電子（負電微粒）運行在核子周圍的軌道上。...

光學輪廓儀是一款非常精密的檢測儀器，它可以檢測工件的粗糙度，并且數(shù)據(jù)十分。高精度輪廓儀是對物體的輪廓、二維尺寸、二維位移進行測試與檢驗的儀器，作為精密測量儀器在汽車制造和鐵路行業(yè)的應用十分廣泛。光學輪廓儀通過對被測物進行缺陷檢測，實現(xiàn)了被測物件的在線連續(xù)式缺陷檢測，及時的防止帶缺陷的軋材進入下一生產(chǎn)環(huán)節(jié)，提高了被測物的成品率和檢測效率。光學輪廓儀具備四只二維激光測量傳感器，每只二維激光傳感器負責檢測一個方位的輪廓情況，四只傳感器*可以滿足軋材的同一截面的輪廓檢測，這樣隨著被測...

膜厚儀做為一種測量物體厚度的儀器，在很多的行業(yè)領域都得到了廣泛的應用，尤其是涂層測厚儀，擁有測量精度高，利用探頭接觸測量方式的優(yōu)點。光學膜厚測量儀是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。光學膜厚測量儀的使用注意事項：1.零點校準在每次使用膜厚儀之前需要進行光學校準，因為之前的測量參數(shù)會影響該次對物體的測量，零點校準可以消除前次測量有參數(shù)的影響，能夠降低測量的結(jié)果的誤差，使測量結(jié)果更加。2.基體厚度不宜過薄在使用...

XRF鍍層測厚儀主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。XRF鍍層測厚儀的測量工作原理：1、磁性測厚法：適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼鐵銀鎳。此種方法測量精度高（如：鐵等磁性材料）2、渦流測厚法：渦流測量原理是高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。與磁感應測厚法一樣，渦流測厚法也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程1...

XRF手持式合金分析儀在金屬制造行業(yè)中，材料、半成品、成品的質(zhì)量與質(zhì)量控制（QA/QC）是*的，混料或使用不合格材料必給企業(yè)帶來損失。XRF手持式合金分析儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機的各種制造業(yè)。已成為質(zhì)量體系中材料確認、半成品檢驗、成品復檢的儀器。XRF手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術，可用于確認物質(zhì)里的特定元素，同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術...

光學膜厚測量儀采用的是一種XRF光譜分析技術，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。使用光學膜厚測量儀的注意事項有以下三點：一、注意保持試件表面的清潔和平整的光學膜厚測量儀是一個非常精密的儀器，如果我們要想我們的測量數(shù)據(jù)能夠保持的話，就要保持試件表面的清潔，及時的處理掉試件表面的附...